LED 多點(diǎn)測(cè)試機(jī)與測(cè)試研討會(huì)

在 LED 廣泛用于液晶電視背光模組以及照明的趨勢(shì)下，近兩年 LED 的需求呈現(xiàn)高速成長(zhǎng)，各家LED大廠都以擴(kuò)充MOCVD機(jī)臺(tái)為主要擴(kuò)充產(chǎn)能的方式，2011年全球的 LED產(chǎn)量約有1000億顆，在這么大的產(chǎn)量下，如何提升產(chǎn)能及降低測(cè)試成本已成為許多LED廠商的主要課題。

一般LED廠商的空間并沒(méi)有隨著產(chǎn)能等比成長(zhǎng)，因此相同的空間 (footprint) 與人力的配置下若能最大可能的降低測(cè)試時(shí)間便能提升產(chǎn)出，降低測(cè)試時(shí)間的方法不外乎以下三種：

流程自動(dòng)化

降低量測(cè)的耗時(shí)

多點(diǎn)同時(shí)測(cè)試

降 低量測(cè)的耗時(shí)是最容易達(dá)成的一個(gè)項(xiàng)目，只要購(gòu)買最好最快的儀器就可以達(dá)到，但一個(gè)LED完整的測(cè)試過(guò)程中，最花時(shí)間的往往不是這個(gè)部分，通常在于機(jī)構(gòu)動(dòng) 作、儀器設(shè)備間的同步交握時(shí)間以及人工的操作；因此若能將光機(jī)電各個(gè)項(xiàng)目整合起來(lái)，減少每一段流程的等待與消耗就能大幅提升測(cè)試速度。

而多點(diǎn)量測(cè)一直是業(yè)界持續(xù)在進(jìn)行的項(xiàng)目，但往往受限于量測(cè)儀器與切換器之間的延遲以及不同位置的待測(cè)物校正問(wèn)題一直無(wú)法很順利的整合。為此，美商國(guó)家儀器(National Instruments)與順英科技合作開(kāi)發(fā)LED自動(dòng)化多點(diǎn)測(cè)試機(jī)，并將于2011年7月20日 下午1:30 在新竹科學(xué)園區(qū) 科技生活館舉辦 LED 多點(diǎn)測(cè)試研討會(huì)。

在 此多點(diǎn)LED測(cè)試系統(tǒng)中，不論是順逆向電流、SCR 現(xiàn)象、靜電放電測(cè)試等電學(xué)特性，或是亮度、峰值波長(zhǎng)、主波長(zhǎng)、光譜半高波寬 (FWHM)、色度座標(biāo) (CIE)等光學(xué)特性，皆可同時(shí)做到多顆 LED測(cè)試，并維持單點(diǎn)測(cè)試相同的精準(zhǔn)度，欲知活動(dòng)詳情，請(qǐng)洽03-657-6222#7131 張先生。

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圖1：NI 與順英科技合作開(kāi)發(fā)的LED 多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)試機(jī)


圖2：透過(guò) NI LabVIEW 開(kāi)發(fā)的 LED 多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)試機(jī)軟件操作畫(huà)面