據(jù)外媒報道，日本光偵測器制造商Hamamatsu Photonics（濱松光子）開發(fā)了一個高速檢測系統(tǒng)，可在晶圓上快速檢測Micro LED芯片的質(zhì)量。

據(jù)悉，該檢測系統(tǒng)名為MiNY PL，采用光致發(fā)光測試技術(shù)（PL）來檢測LED芯片外表、發(fā)光強(qiáng)度和波長的異常問題，所用光致發(fā)光測試技術(shù)是基于濱松光子的圖像處理技術(shù)和新開發(fā)的成像模組。

濱松光子表示，MiNY PL系統(tǒng)在檢測Micro LED芯片時能夠快速判斷芯片是否合格，這有利于提升顯示用Micro LED產(chǎn)品的良率及Micro LED的研發(fā)效率。

此外，MiNY PL系統(tǒng)將簡化未來Micro LED量產(chǎn)產(chǎn)線上100%的檢測過程。

圖片來源：濱松光子

無獨(dú)有偶，日前也有消息透露，蘋果正在開發(fā)Micro LED檢測系統(tǒng)，并且已經(jīng)獲得相關(guān)專利。

蘋果的系統(tǒng)是在Micro LED芯片轉(zhuǎn)移至顯示面板之前對芯片質(zhì)量進(jìn)行檢測并精準(zhǔn)定位，目的同樣是降低缺陷率和生產(chǎn)制程的損失，從而提高顯示屏的可靠性，保證產(chǎn)品質(zhì)量。

Micro LED尺寸微縮化，芯片使用數(shù)量和轉(zhuǎn)移接合過程的工作量都大幅增加，若芯片缺陷率過高，就會降低后續(xù)制程的生產(chǎn)良率，增加返修工作量和整體成本。因此，從檢測芯片質(zhì)量等前端制程開始把控生產(chǎn)良率尤為關(guān)鍵，但這也是Micro LED產(chǎn)業(yè)的難點(diǎn)之一。

為此，不少設(shè)備商加大對Micro LED檢測設(shè)備的研發(fā)力度，目前進(jìn)度不一。不管具體細(xì)節(jié)如何，眼下相關(guān)消息表明了芯片質(zhì)檢環(huán)節(jié)已有所突破，這對于Micro LED產(chǎn)業(yè)來說，是一大利好消息。（文：LEDinside Janice）

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